Wzorce TOC i IC

Kompleksowy wybór standardów TOC/IC (do oznaczania całkowitego węgla organicznego i nieorganicznego) niezbędnych przy wykonywaniu kalibracji, walidacji, sprawdzania przydatności systemu oraz weryfikacji wydajności analizatorów TOC marek: Sievers®, Shimadzu®, Teledyne®, Anatel® i innych.
Najwyższej jakości wzorce i certyfikowane materiały odniesienia produkowane są przez jednego z głównych światowych producentów wzorców, firmę ERA Waters Company.

||||

Wzorce do analizatorów TOC

Certyfikowane, dokładne oraz identyfikowalne wzorce do oznaczania całkowitego węgla organicznego, węgla nieorganicznego (TOC/IC) oraz przewodności. Kompleksowy wybór standardów TOC/IC do wykonywania kalibracji, walidacji, sprawdzania przydatności systemu oraz weryfikacji wydajności analizatorów TOC.

Firma ERA Waters Company jest jednym z głównych światowych producentów najwyższej jakości wzorców TOC dla analizatorów marek: Sievers®, Shimadzu®, Teledyne®, Anatel® i innych. Niezależnie od producenta urządzenia, ERA, a wraz z nią firma ITS SCIENCE oferuje szeroką gamę wzorców do kwalifikacji Państwa urządzenia.

  • Produkowane i certyfikowane zgodnie z normami ISO 17025 oraz z ISO Guide 34; spełniają najwyższe standardy jakości i kwalifikowane są jako certyfikowane materiały odniesienia (CRM)*,
  • Charakteryzują się spójnością pomiarową wg specyfikacji NIST, zapewniając właściwą kalibrację analizatorów TOC; gwarantują wyjątkową precyzję i powtarzalność oznaczeń,
  • Dostępne są w różnych rozmiarach opakowań, od butelek 1 L do pojedynczych opakowań 30 mL,
  • Wyprodukowane z ultraczystej wody,
  • Dla każdego roztworu wzorcowego firmy ERA Waters dołączony jest certyfikat analizy.

* Certyfikowany materiał odniesienia (Certified Reference Material – CRM) – materiał odniesienia, którego jedna lub wiele właściwości zostało scharakteryzowanych przez metrologicznie uznaną procedurę, któremu towarzyszy świadectwo określające wartość dla wyszczególnionych właściwości, związaną z nimi niepewność oraz stwierdzające zachowanie metrologicznej spójności pomiarowej (źródło: Główny Urząd Miar).

Czytaj dalej...

Wydarzenia